Научно-технический центр исследований и анализа безопасности инфраструктур
3 Июль 2013

Международный научно-технический семинар «Критические компьютерные системы и технологии» (КриКТехС)

3 июля 2013. Сотрудники центра приняли участие в организации и проведении очередного заседания семинара (http://crictecs.csn.khai.edu/) на тему «Контролепригодность, технологии тестирования и верификации программно-технических средств ИУС на основе процедур засева дефектов» совместно с представителями академических и индустриальных организаций Украины (Национальный аэрокосмический университет «ХАИ», Харьков, Украина). Сотрудниками центра были сделаны доклад «Технология засева аппаратных дефектов в FPGA-модули в процессе SIL- сертификации (стандарт IEC61508)» и проведена дискуссия на тему «Практические задачи FIT и FITабильности».

рубрики: Новости | Комментарии отключены